CTI華測檢測半導體檢測及分析中心實驗室完成全面升級
深圳2025年3月18日 /美通社/ -- 2025年3月13日，華測檢測認證集團股份有限公司（簡稱CTI華測檢測）半導體檢測及分析中心實驗室升級儀式在上海市浦東新區隆重舉行，標志著實驗室已順利完成全面升級工作。本次升級涵蓋硬件設施更新、檢測流程優化及技術體系完善等多個關鍵領域，充分彰顯了CTI華測檢測在半導體檢測領域的技術實力與創新水平。與此同時，技術展望研討會也同期召開，邀請了企業客戶代表、戰略合作伙伴代表等共同參與，圍繞檢測技術的發展趨勢與創新方向進行深入交流，為實驗室的持續進步和行業升級提供了寶貴的思路與支持。
CTI華測檢測集團總裁申屠獻忠、消費品事業部總裁田琪、華東區行政總裁陳騫、半導體檢測及分析中心總經理蘇紅偉；上海市集成電路行業協會副秘書長石建賓、賽默飛MSD半導體業務副總裁朱雪雁、蔡司顯微鏡市場總監張寧、濱松光子半導體市場負責人王寧波、國儀量子市場經理陳帆等全國集成電路相關企業客戶、合作機構代表、合作供應商共100余人出席實驗室升級儀式。
CTI華測檢測集團總裁申屠獻忠就目前半導體行業發展趨勢發表見解。他指出，在當前復雜多變的行業環境下，全球半導體產業正在經歷變革，而失效分析能力正成為芯片企業技術話語權的關鍵指標之一，CTI華測檢測半導體檢測及分析中心正是瞄準了這一戰略需求，應運而生推出了具有針對性的測試服務能力，為客戶的全球化發展提供優質的一站式服務。此次CTI華測檢測半導體檢測及分析中心實驗室全面升級之后，將重點推進兩大戰略：一是深化與優質供應商的戰略合作，持續提升檢測硬件水平，確保為客戶提供精準可靠的測試數據；二是強化人才隊伍建設，以資深人才為基石，為客戶提供全面、深入、專業的技術服務，明確了半導體檢測領域未來發展的方向。
CTI華測檢測集團總裁 申屠獻忠
上海市集成電路行業協會副秘書長石建賓致辭時表示：展望 2025 年，盡管產業前景依然向好，增長預期較為樂觀，但也不可避免地面臨著全球經濟形勢不確定性加劇、地緣政治風險高等諸多挑戰。就上海本地市場而言，2024 年集成電路產業營收實現穩健增長，需要企業憑借敏銳的市場洞察力和精準的戰略布局，穩扎穩打，才能走得又快又穩。同時他對CTI華測檢測在芯片半導體檢測領域業務水平表示了肯定，同時指出目前半導體發展已經進入深水區，需要CTI華測檢測這樣優秀的企業為中國半導體事業的發展添磚加瓦。隨后，知名科技企業蔡司、賽默飛世爾科技等戰略合作伙伴對CTI華測檢測半導體檢測及分析中心實驗室的技術升級表示祝賀，期待雙方在半導體檢測領域開展更深層次的戰略合作。
上海市集成電路行業協會副秘書長 石建賓
來賓代表：賽默飛世爾科技、蔡司
儀式最后，在與會嘉賓的見證下舉行了現場剪彩，CTI華測檢測高層領導與戰略合作伙伴代表共同執剪，標志著實驗室正式邁入新發展階段，檢測能力實現跨越式提升，將為客戶提供更優質的半導體檢測服務。
在之后的技術展望研討會上，CTI華測檢測半導體檢測及分析中心實驗室失效分析技術總監沈玄博士圍繞《新機臺賦能失效分析技術升級之路》展開分享，失效分析實驗室已完成全面升級，實驗室面積擴增至一千多平，新增3D-Xray、FIB、TEM、X-prep等新機臺新技術。同時，實驗室通過引進資深技術團隊，完善檢測分析技術，將為半導體行業客戶提供更優質的技術服務。
蔡司應用主管鄭義明、賽默飛高級業務拓展經理曹瀟瀟、CTI華測檢測汽車電子實驗室總監王子翼、濱松光子應用專家費天、CTI華測檢測半導體檢測及分析中心實驗室副總鄭宜明、國儀量子高級解決方案經理王峰分別介紹了先進封裝失效分析工作流、芯片上車新規、熱反射成像技術、高功耗芯片老化與ESD檢測新進展、國產電鏡技術和應用進展等內容。
會后，與會嘉賓實地參觀了CTI華測檢測半導體檢測及分析中心FA/MA實驗室，深入了解實驗室在失效分析和材料分析領域的先進設備與技術能力，并著重聽取了關于此次實驗室升級的重點設備及技術的介紹。
在以科技創新引領新質生產力發展的大背景下，技術革新成為質量強國、提升全球競爭力的關鍵點。作為中國第三方檢測與認證服務的領軍企業，CTI華測檢測始終以大格局、前瞻性的戰略眼光布局業務發展，未來，公司將繼續以服務客戶為導向，以引進新服務與新技術為抓手，秉承合作共贏的理念積極促進行業交流和合作，全力支持國產半導體行業的蓬勃發展，為行業進步貢獻專業力量。
CTI華測檢測半導體檢測及分析中心
CTI華測檢測半導體檢測及分析中心（STC）致力于為消費品級、工業品級及車規級半導體行業客戶提供一站式測試、分析及認證解決方案。針對集成電路、分立及功率器件、傳感器、被動元器件和光電子器件等產品，提供可靠性測試、破壞性物理分析、失效分析、產品認證等專業服務。
